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日本臺(tái)階儀裝置株式會(huì)社小坂研究所（KOSAKA）是于1950 年創(chuàng)建的公司，也是日本第一家宣布光學(xué)杠桿外表粗糙度計(jì)，是一家具有悠長(zhǎng)歷史與技術(shù)布景的專(zhuān)業(yè)廠商,主要有測(cè)定/自動(dòng)/流體三大部分。其間測(cè)定部分為最具代表性單位且在日本精密測(cè)定業(yè)占有一席無(wú)法被替代的位置。 設(shè)備特色：KOSAKA ET 系列 根據(jù)Windows 操作系統(tǒng)為多種不同外表供給全面的描摹分析，包括半導(dǎo)體硅片、太陽(yáng)能硅片、薄膜磁頭及磁盤(pán)、MEMS、光電子、精加工外表、生物醫(yī)學(xué)器件、薄膜/化學(xué)涂層、平板顯現(xiàn)、觸摸屏等。運(yùn)用金剛石（鉆石）探針觸摸測(cè)量的方式來(lái)實(shí)現(xiàn)高精度外表描摹分析使用。能準(zhǔn)確可靠地測(cè)量出外表臺(tái)階描摹、粗糙度、波紋度、磨損度、薄膜應(yīng)力等多種外表描摹技術(shù)參數(shù)。
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