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東京精密|粗糙度輪廓儀S CREST
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■高穩(wěn)定倍光路型激光干涉?zhèn)鞲衅?/span> ●應(yīng)用東京精密的要素技術(shù)之一的光纖激光干涉測長系統(tǒng)，開發(fā)出分辨率0.31nm的高穩(wěn)定倍光路型激光干涉?zhèn)鞲衅鞑⒋钶d在產(chǎn)品上。 ●動態(tài)量程與分辨率之比高達42,000,000 ：1，一次跟蹤即可評價大范圍的輪廓形狀及其隱藏在形狀下面的微細表面形狀， 是一款劃時代的產(chǎn)品。
■在驅(qū)動部搭載線性馬達 已取得專利f ●憑借線性馬達驅(qū)動，實現(xiàn)了高精度·高速移動。 ●電子低振動化穩(wěn)定，可以實現(xiàn)高倍率測定。
■只需一次測量即可進行粗糙度和輪廓的分析 ●可在保持高精度的同時提高測量效率。 ■范圍大、自動測量 ●橫向200mm，縱向13mm，測量范圍大。 ●可±45°自動控制驅(qū)動部傾斜（SURFCOM CREST-T型號） |
